利用90k芯片技术进行小麦穗部性状QTL定位

武炳瑾, 简俊涛, 张德强, 马文洁, 冯洁, 崔紫霞, 张传量, 孙道杰^*

QTL Mapping for Spike Traits of Wheat Using 90k Chip Technology

WU Bing-Jin, JIAN Jun-Tao, ZHANG De-Qiang, MA Wen-Jie, FENG Jie, CUI Zi-Xia, ZHANG Chuan-Liang, SUN Dao-Jie^*

穗部性状表型分析（图中包含3个环境全部数据。）