%A 齐波,张宁, 赵团结,邢光南,赵晋铭*,盖钧镒 %T 利用高光谱技术估测大豆育种材料的叶面积指数 %0 Journal Article %D 2015 %J 作物学报 %R 10.3724/SP.J.1006.2015.01073 %P 1073-1085 %V 41 %N 07 %U {https://zwxb.chinacrops.org/CN/abstract/article_5909.shtml} %8 2015-07-12 %X

叶面积指数(LAI)是反映田间作物长势及产量潜力的重要参数,规模化育种要求及时、快速、无损地获取大量育种材料的田间生长信息。本研究利用52份大豆品种()2年田间试验,在盛花期(R2)、盛荚期(R4)及鼓粒初期(R5)测定大豆冠层反射光谱,同步测定大豆LAI和地上部生物量(ABM)。结果表明,不同生育期LAI与冠层光谱在可见光波段(426~710 nm)均表现显著负相关(P<0.05),在近红外波段(748~1331 nm)均表现为显著正相关(P<0.05)。根据文献已报道的植被指数与LAI的线性相关性分析,NDVIRVI类型的植被指数能够较好地指示大豆LAI,进而在全光谱250~2500 nm范围内涵盖上述两种类型的植被指数,经对建立的大豆LAI线性与非线性模型综合评价,遴选出不同生育期敏感植被指数的最优估测模型。其中,R2RVI (825, 586)所建模型(y = 0.03x1.83)R4RVI (763, 606)所建模型(y = 0.38e0.14x)R5RVI (744, 580)所建模型(y = 0.06x1.79)的预测表现最好,决定系数(R2)分别为0.6770.6390.664,相对标准误(RRMSE)均小于20%;模型验证的决定系数(R2*)分别为0.6430.6120.634,均根方误差(RRMSE*)20%。进而发现针对LAIABMRVI共性核心波段组合为R2期的825 nm586 nmR4763 nm606 nm以及R5744 nm580 nm。本研究结果可望为大豆规模化育种中获取大量不设重复试验材料的田间长势信息提供快速无损预测的技术支持。