小麦抗白粉病基因聚合体DH材料的分子标记鉴定

作物学报 ›› 2005, Vol. 31 ›› Issue (05): 565-570.

小麦抗白粉病基因聚合体DH材料的分子标记鉴定

罗瑛皓;陈新民;夏兰芹;陈孝;何中虎;任正隆

中国农业科学院作物育种栽培研究所，国家小麦改良中心，北京100081

收稿日期:2004-04-26 修回日期:2004-09-11 出版日期:2005-05-12 网络出版日期:2005-05-12
通讯作者: 陈新民

Molecular Marker-Assisted Selection of DH Plants Conferring Genes Resistant to Powdery Mildew in Wheat (Triticum aestivum L.)

LUO Ying-Hao;CHEN Xin-Min;XIA Lan-Qin;CHEN Xiao;HE Zhong-Hu;REN Zheng-Long

National Wheat Improvement Center, Institute of Crop Breeding and Cultivation, Chinese Academy of Agriculture Sciences, Beijing 100081

Received:2004-04-26 Revised:2004-09-11 Published:2005-05-12 Published online:2005-05-12
Contact: CHEN Xin-Min

摘要/Abstract

摘要： 小麦白粉病是由Blumeria graminis f.sp. tritici引起的世界性病害，利用分子标记辅助选择进行抗白粉病基因累加，可延长品种抗病性寿命，有利于提高育种效率。本研究利用Pm4b的STS-PCR标记，Pm13和PmV的SCAR-PCR标记，以及与Pm12共分离的同功酶标记（α-Amy-1）对来自小麦与玉米杂交产生的双单倍体材料的7个株系和9个穗系的4

关键词: 小麦白粉病, 双单倍体, 分子标记, 辅助选择, 基因累加

Abstract: Powdery mildew, caused by Blumeria graminis f. sp. tritici, is one of the most destructive wheat diseases worldwide. Using molecular markers to pyramid more effective resistance genes is one way to sustain the resistance of wheat cultivars. The objective of this study was to identify the resistance

Key words: Common Wheat, Powdery mildew, Doubled haploid (DH), Molecular marker assisted selection, Pyramid resistance gene

中图分类号:

S512

罗瑛皓;陈新民;夏兰芹;陈孝;何中虎;任正隆. 小麦抗白粉病基因聚合体DH材料的分子标记鉴定[J]. 作物学报, 2005, 31(05): 565-570.

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